PCT高压加速老化试验箱（Pressure Cooker Test）是一种通过模拟高温、高湿、高压环境加速产品老化的工业测试设备，主要用于评估电子元件、半导体封装等产品的密封性、耐湿性及可靠性。
PCT高压加速老化试验箱（Pressure Cooker Test）是一种通过模拟高温、高湿、高压环境加速产品老化的工业测试设备，主要用于评估电子元件、半导体封装等产品的密封性、耐湿性及可靠性。核心功能与原理
环境模拟：通过饱和蒸汽（100%RH）和高压（0.5~3.5kg/cm²）环境，加速材料吸湿、氧化等失效过程，快速暴露潜在缺陷（如爆米花效应、金属腐蚀）。
控制模式：支持PCT（饱和蒸汽）和HAST（非饱和蒸汽）双模式，温度范围通常为110℃~132℃，最高可达147℃。
技术参数
参数范围/特性
温度+110℃~+132℃（最高147℃）
压力0.5~3.5kg/cm²（安全承压4kg/cm²）
湿度100%RH饱和蒸汽
内箱材质SUS316不锈钢，防结露设计
应用领域
半导体：检测封装抗湿气能力（如芯片爆米花效应）。
汽车电子：评估零部件在湿热条件下的耐久性。
新材料：测试胶水、锡膏等材料的密封稳定性。
安全设计
超压自动泄压、超温断电保护。
门禁锁定系统及手动安全排压阀。
注：部分型号支持自定义温湿度曲线，需根据测试标准
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