LED电子元器件高低温冲击测试试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC,测试其材料对高、低温的反复测试产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。
一.LED电子元器件高低温冲击测试试验箱详细参数：
1. 高低温冲击试验箱控制器:*LCD液晶显示触摸屏控制器;
2.工作槽温度范围:(A:-45)，(B:-55)，(D:-65)~150℃;
3.温度恢复时间:5分钟以内;
4.高度槽温度:60℃ - 200℃;
5. 高低温冲击试验箱低温槽温度:(A:-65)，(B:-70)，(D:-80)~-10℃;
6. 高低温冲击试验箱高低温曝露时间:30分钟
7.内箱材质:雾面不锈钢SUS304;
8.外箱材质:雾面线条处理不锈钢SUS304;
9.压缩机:法国*全密式压缩机
10.电源:AC380V±10%50HZ 三相四线+保护地线。
二.LED电子元器件高低温冲击测试试验箱结构：
鳍片式加热器
冷却系统
欧美*压缩机+鳍片式蒸发器+气冷式（或水冷式）冷凝器
控制系统
触控式彩色液晶（LCD）控制器+固态继电电驿
其它配件
测试孔（50mm）,动作指示灯,隔层置物架（两个）
电路系统负载保护、压缩机负载保护、控制系统负载保护、故障警示灯、压缩机高低压负载保护
电 源（V）
AC 3ψ,380V±10%,50Hz±0.5HZ，三相四线+保护地线
选配件
温湿度记录器，可记录温度讯号
备注：可根据客户要求制作，满足客户的要求。以上机型水冷式须配备冷却水塔
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