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工业芯片元器件高低温循环交变试验机

更新时间:2026-06-02

简要描述:

工业芯片元器件高低温循环交变试验机,依据 GB/T2423.22、IEC60068、JEDEC JESD22-A104 等相关试验标准设计制造,主要用于工业级 IC、功率半导体、车规芯片、集成模组与配套 PCB 线路板的环境可靠性测试。

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工业芯片元器件高低温循环交变试验机

一、产品概述       工业芯片元器件高低温循环交变试验机

工业芯片元器件高低温循环交变试验机,依据 GB/T2423.22、IEC60068、JEDEC JESD22-A104 等相关试验标准设计制造,主要用于工业级 IC、功率半导体、车规芯片、集成模组与配套 PCB 线路板的环境可靠性测试。

工业芯片元器件高低温循环交变试验机

工业芯片多用于自动化工控、新能源电控、车载设备、户外仪器等场景,使用期间受季节交替、昼夜温差、设备启停影响,长期处在冷热交替环境中。不同封装材料、PCB 基材热膨胀系数存在差异,反复温变产生的热应力易造成 BGA 焊点微裂、封装分层、线路暗伤、电气参数漂移等隐性故障。借助本设备模拟高低温循环工况,可在研发和量产阶段提前完成应力筛选,为产品工艺优化与品质管控提供试验数据支撑。

二、设备工作原理

设备采用平衡式温调闭环控制系统,由制冷系统、加热系统、强制循环风道、PT100 测温模块、可编程控制器组成。控制系统依托 PID 运算逻辑,实时采集箱内多点温度数据,动态调配加热与制冷输出功率,配合全域循环气流,实现箱内升温、恒温、降温、循环交变等各类工况。操作人员可预先设置多段程序,自主定义高低温驻留时长、升降温速率、循环次数,设备按照设定程序自动完成连续温度循环试验,全程温度参数可控,保障同批次样品试验条件统一。

三、箱体结构与材质配置

箱体钣金结构:外箱采用冷轧钢板静电喷塑,耐油污、耐腐蚀;内胆选用 SUS304 不锈钢板材,内壁光滑不易积尘,可避免杂质附着在精密芯片、超薄 PCB 表面。

保温与密封:箱壁填充高密度聚氨酯发泡保温层,减少冷热损耗;箱门搭配多层耐温硅胶密封条,降低箱体漏温,维持内部温场稳定。观察窗采用中空钢化玻璃,搭配箱内 LED 照明灯,试验时可直观查看样品状态。

外接测试孔:箱体侧边预留标准引线孔,可外接电源线与信号采集线,支持芯片、PCB 板带电运行测试,贴近产品实际带载工作环境。

箱内置物结构:标配不锈钢置物网架,可分层摆放多组芯片与线路板,满足多样品同步试验需求。

四、各大系统组成说明

1. 制冷系统

选用全封闭压缩机搭配环保冷媒,配套风冷散热组件与自动化除霜结构,低温运行不易结霜堆积,可支撑设备长时间不间断循环试验。制冷回路分级配比,实现从低温区间到常温区间平稳过渡,适配宽温区试验需求。

2. 加热系统

采用封闭式镍铬合金电热组件,发热均匀、温控响应平稳,配合功率分段调节,避免局部高温灼伤样品,适配精密工业芯片温和升温测试。

3. 风道循环系统

离心风机配合环绕式风道布局,气流在腔体内部往复循环,缩小箱体各区域温差,减少温场死角,保证多层置物架上的芯片、PCB 受热环境一致。

4. 智能控制系统

配备彩色触控操作屏,支持中英文界面,可存储多套自定义试验程序,随时调取使用;系统自动记录全程温度曲线、运行时长、循环次数,数据可通过 USB、通讯接口导出存档,便于实验报告编制与数据追溯。

五、产品主要使用优势

温场均匀稳定,适配精密元器件

优化风道与温控算法,箱体空间温差控制在标准范围内,适合光敏芯片、功率 IC、超薄精密 PCB 等高灵敏产品测试,提升试验数据重复性。

宽温区间,覆盖多等级产品测试

常规温度区间 - 65℃~+150℃,可分别满足普通工业级、车规级、高可靠军工类芯片的高低温循环试验,模拟严寒低温启动、密闭高温老化、大温差交变等多种工况。

可编程循环,适配认证类长周期试验

程序分段编辑灵活,可设置几十次至数千次连续温度循环,满足车载、工控产品可靠性认证所需的应力筛选试验。

支持带电实测,还原真实工况

预留引线孔便于接线通电,在温变环境下实时监测元器件电气性能变化,降低空载测试与实际使用的数据偏差。

wan善安全防护,保护高价值样品

集成超温停机、压缩机延时启动、过载断电、漏电保护、故障声光报警等多重防护,出现异常及时停机,降低昂贵芯片、精密模组在试验中受损概率。

六、可执行试验项目及试验目的

高温贮存与高温带电试验

模拟设备密闭高温、夏季环境,验证芯片与 PCB 在高温环境下的工作稳定性,排查高温老化、参数漂移隐患。

低温贮存与低温启动试验

模拟寒冷户外、停机低温静置环境,检验元器件耐低温性能与低温上电启动能力,规避低温脆化、开机失效问题。

高低温循环交变试验(核心项目)

产品反复在高低温区间切换,依靠热应力加速暴露焊点虚焊、封装开裂、PCB 分层等隐性缺陷,用于新品定型验证与量产批次筛选。

梯度速率温变试验

设定固定升降温速率,模拟设备开关机骤冷骤热,考核元器件耐受快速温度波动的结构与电气稳定性。

七、适用测试产品

各类工业主控 IC、功率半导体芯片、车规控制芯片、传感 IC、光电工业芯片;电源模组、信号处理模组、车载电控集成模块;工控 PCB 主板、多层精密线路板、芯片承载裸板等。

八、应用场景

工业电子研发实验室:新品芯片结构验证、封装工艺改良、PCB 布局优化、失效机理分析;

生产工厂质检车间:成品元器件抽样温循筛选,管控批量产品出厂一致性;

车载与新能源企业:外购电控芯片、线路板入厂可靠性验证;

第三方检测机构:按照国标、国际标准承接委托测试,出具合规检测报告;

高校微电子实验室:课程实训、大创项目、毕业设计相关环境试验。

九、产品应用价值

通过标准化高低温循环试验,在产品量产上市前筛选潜在不良,减少终端设备现场故障,优化企业售后成本;试验采集的温变耐受数据,可用于指导板材选型、封装选材、焊接工艺优化,提升产品环境适应能力。设备试验流程契合主流行业检测规范,助力企业产品完成各类资质认证,是工业芯片可靠性实验室常备试验设备。


工业芯片元器件高低温循环交变试验机

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